ג'יטאיההשקעה האחרונה של COXEM EM-30AX PLUS חוללה מהפכה ביכולת שלה להבטיח שבקרת איכות היא המרכיב המרכזי בדחיפה שלה להשיג נתח שוק גדול יותר.
ה-SEM (Scanning Electron Microscope) של COXEM הוא כלי שנועד לצפות בחלקים קטנים לאין שיעור של חומר לדוגמה.זה יכול לקבל תמונות מעמיקות וממוקדות ברמות הגדלה גבוהות במיוחד (עד פי 150,000).אחד היתרונות הרבים של COXEM EM-30AX PLUS הוא שהוא משתמש בקרן אלקטרונים בעלת אורך גל קצר.זה יעיל במיוחד בהשגת רזולוציה גבוהה על ידי התאמת מתח האצה, מרחק עבודה וגודל אלומת האלקטרונים.
ה-EM-30AX PLUS הוא עדכון מה-EM30PLus המאפשר ניתוחים מורפולוגיים מתקדמים.היתרון העיקרי של הגרסה המעודכנת הוא שהיא מאפשרת התקנה של מיקרואנליזה ממוזערת ישירות בתוך המכשיר.זה נותןג'יטאיהיכולת לנתח חומרים הן על בסיס מורפולוגי והן על בסיס קומפוזיציוני.גלאי ה-EDS מאפשר לאתר נקודה בעייתית או למפות את מכלול היסודות הכימיים המצויים בדגימה.ה-EM-30AX Plus מסוגל לרזולוציית 5 ננומטר, מה שמבטיח שניתן לנתח את האיכות במיקרו ולכן מובטחת גם ברמת הננו.מתח ההפעלה השופע שלו נע בין 1 ל-30kV.ככזה הוא ישים באופן נרחב בתחומי הננוטכנולוגיה, אפיון מתכות וסגסוגות, ויתרום רבות לג'יטאיהרדיפה הבלתי פוסקת של יכולות ייצור חלקות.